| |
| TESA ETALON TCM200测量显微镜 |
 |
产品详细描述：
主要特征
模块化结构设计, 可根据需要进行光学长度测量或表面金相检验. 优化的照明系统, 精密滚珠轴承工作台(150X100, 250X150mm 两种), 线性金属光栅尺组成的光电测量系统, 计算机内核的数据处理单元, RS232 数字输出, 出厂前的检验合格证书.
- 三坐标的非接触测量,无测量力
- 测量分辨率0.5μm
- 最小的允许误差保证了测量的高精度, 如150mm 长度测量的允许误差仅为2.6μm
- 宽大的测量空间, 长度方向没有空间限制
- 放大倍率达1000倍的表面结构检验, 光源照明充分
- 视频摄像系统可进一步进行图像分析
主机及其配置
| 订货号/Order Number |
06839006 |
06839007 |
06839008 |
06839009 |
| 带双目镜的主机 |
· |
· |
· |
· |
| 35瓦透射冷光源 |
· |
· |
· |
· |
| 90瓦反射冷光源 |
· |
· |
· |
· |
| 测量范围为150X100毫米的工作台 |
· |
|
· |
|
| 测量范围为250X150毫米的工作台 |
|
· |
|
· |
| 可进行Z轴测量 |
· |
· |
|
|
| 数据处理单元 |
QUADRA-CHECK 220 |
|
|
· |
· |
| QUADRA-CHECK 230 |
· |
· |
|
|
技术指标
| 订货号 |
06839006 |
06839007 |
06839008 |
06839009 |
| 测量范围(mm) |
150 X 100 |
250 X 150 |
150 X 100 |
250 X 150 |
| 轴向最大允许误差 |
(1.8+0.005L) μm, (L in mm) |
(2.5+0.01L) μm (L in mm) |
(1.8+0.005L) μm (L in mm) |
(2.5+0.01L) μm (L in mm) |
| 主机重量 |
110kg |
140kg |
110kg |
140kg |
| 外型尺寸(宽X高X深） |
356 X 662 X 540 |
|
|
|
|
 |
公司简介 
